IG-1000 PDF-Dokument 3.5 MB

Artikel PDF-Dokument 771 kB

SHIMADZU har utvecklat en unik metod för bestämning av partikelstorleksfördelning i området mellan 0,5nm och 200nm.

Dynamic Light Scattering
De DLS (Dynamic Light Scattering) baserade instrument som normalt används för bestämning av partikelstorlek lider av en stor nackdel. Eftersom intensiteten i det spridda ljuset i DLS instrumenten står i omvänd proportion till partikelstorleken blir signalen för svag för, partiklar under 20nm, att detekteras av sensorerna i instrumenten. Utöver detta ställer även prover med en bred storleksfördelning eller partiklar blandade med agglomerat eller föroreningar till med stora problem. Dessa agglomerat och föroreningar kan effektivt blockera signalerna från de mindre partiklar man har för avsikt att mäta. Detta innebär att det är oerhört svårt att med noggrannhet / säkerhet kunna bestämma storleksfördelning på partiklar under 10nm med hjälp av DLS tekniken. Tidsödande provberedning och mätning i renrum är i praktiken ett krav för att överhuvudtaget lyckas med mätningen.

Induced Grating
SHIMADZUs nya IG-1000 använder sig av "Induced Grating" (IG) teknik för att mäta partikelstorlek i området 0,5nm och 200nm. Tekniken har utvecklats under fem år och har 36 patent som är under behandling. Genom att lägga på en AC spänning över ett elektrodgaller som är nersänkt i provet (lösningen med partiklar som skall mätas) får man partiklarna att, genom dielectrophoresis, samlas mellan gallren. Då lasern passerar genom denna partikel ansamling detekterar instrumentets sensor maximal intensitet i ljusdiffraktionen. Spänningen slås sedan av och dielectrophoresisen upphör varvid partiklarna återigen börjar sprida sig (i enlighet med Brownsk rörelse). Den uppmätta ljusintensiteten börjar omedelbart att avklinga i takt med att partiklarna förflyttar sig allt längre ifrån sin ursprungliga position, små partiklar snabbare än stora. Förhållandet mellan ljusintensitet / tid konverteras sedan till partikelstorlek och partikelstorleksfördelning. IG tekniken har högre känslighet för partikelmätning i Nano- och subnanoregionen än konventionell DLS teknik. IG tekniken är samtidigt betydligt okänsligare för föroreningar i provet varför utrustningen lämpar sig alldeles utmärkt för användning i vanlig laboratoriemiljö utan krav på renrum. Tekniken medger också mätning av prover där storleksfördelningen i samma prov spänner mellan 0,5nm och 200nm.

Transmissonselektronmikroskop
IG-1000 kan i många fall ersätta de tidskrävande och omständiga mätningar som idag måste utföras i Transmissonselektronmikroskop (TEM) Provberedningen för TEM mätning är omständig och tidskrävande, mätningarna måste utföras i vakum. Specialutbildad personal med lång erfarenhet krävs för att genomföra mätningarna i TEM. Då det gäller IG-1000 är provberedningen som krävs minimal, instrumentet är kompakt och betydligt billigare än TEM. Det är enklare att använda och underhålla än TEM och kräver inte renrum.

Oavsett om användaren finns inom forskning och utveckling inom nanoteknik, biomedicin eller i QA laboratoriet i industrin kan IG-1000 leverera snabba och högkvalitativa resultat till kraftigt reducerade kostnader i såväl tid som pengar!